Сканирующий электронный микроскоп

В Институте установлен современный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) - Zeiss EVO 15, с детекторами SE, BSE, EDX, оснащенный вольфрамовым филоментом. Прибор предназначенный для высокоточной визуализации структуры органических и неорганических материалов. Благодаря широким возможностям настройки режимов съёмки, микроскоп активно используется как в научных исследованиях, так и в прикладных проектах.

Сканирующая электронная микроскопия - это метод высокоразрешающей визуализации поверхности объектов с использованием электронного пучка. В отличие от оптических микроскопов, СЭМ позволяет увидеть микро- и наноструктуры с высокой детализацией. Изображение формируется за счёт взаимодействия электронов с поверхностью, что обеспечивает исключительную чёткость и глубину резкости.

Благодаря этому методу можно:

• исследовать морфологию и топографию поверхности,
• анализировать микроструктуру тканей, материалов, покрытий,
• проводить элементный анализ,
• выявлять дефекты, микротрещины и загрязнения.

Мы предоставляем услуги сканирующей электронной микроскопии для научных, медицинских, промышленных и образовательных организаций. В нашем Институте используются современные протоколы подготовки органических образцов:

• биологические ткани (например, фрагменты органов, клетки, внеклеточные матриксы).

Наши услуги включают:

• подготовку образцов (фиксирование, обезвоживание, покрытие металлом),
• съёмку в режиме SE или BSE (вторичные и обратноотражённые электроны),
• количественный и качественный элементный анализ (EDX),
• оформление отчётов и консультации по интерпретации изображений.